序号
筛选项目
筛选方法
1
外观检查
见5.1
2
参数测量
见5.2
3
恒定加速度
见5.3
4
粒子碰撞噪声检测(PIND)
5
密封性检查
本文是学习GB-T 32872-2016 空间科学照明用LED筛选规范. 而整理的学习笔记,分享出来希望更多人受益,如果存在侵权请及时联系我们
本标准规定了空间科学照明用LED(Light Emitting
Diode)筛选项目和程序、筛选方法、参数测量
和合格判定。
本标准适用于空间科学照明用额定功率1 W 和 1 W 以上封装的单芯 LED
的筛选，其他功率级别
的 LED 也可参照执行。
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文
件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 24824—2009 普通照明用LED 模块测试方法
GJB128A—1997 半导体分立器件试验方法
GJB 4027 军用电子元器件破坏性物理分析方法
3.1
被筛选器件应按产品规范或技术协议的要求进行参数初测，合格的器件可参加筛选。筛选按规定
的项目和程序进行，完成每个项目之后，剔除不合格产品。
3.2
被筛选器件应逐个编号，并在每次测试时记录测试数据。筛选结束后，应编写筛选统计表，格式参
见附录 A, 器件的参数测试数据可作为筛选报告的附件。
3.3 测试如有异常，应记录异常的发生时间和器件编号。
3.4 当筛选剔除率超过20%时，应判批次不合格。当出现功能失效时，应按照
GJB4027 进行失效分
析，如属于材料或工艺因素的非偶然性失效也应判批次性不合格。
筛选按表1规定的项目和程序进行，完成每个项目之后，剔除不合格产品。
表 1 筛选项目和程序
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见5.4 | |
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见5.5 | |
GB/T 32872—2016
表 1 (续)
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常温下，用10倍放大镜检查器件的外观质量，不得存在下列缺陷：
a) 管壳和管脚锈蚀，根部有明显硬伤；
b) 透镜破碎、有裂纹，或有气泡、异物；
c) 标识不清；
d) 变形、污损、划痕等外观缺陷。
按6.1、6.2和6.3进行参数测量，所测参数应满足产品规范或技术协议的要求。
筛选条件如下：
a) 恒定加速度：196000 m/s²;
b) 实验方向：Y1 向(加速力方向平行于器件主轴，主基座的正方向);
c) 持续时间：1 min。
将被筛选器件(不通电)安装于加速度试验架上，筛选方法按照GJB
128A—1997方法2006的规定。
试验结束后，按6.4.2进行合格判定。
在40 Hz～250 Hz下，峰值加速度为196 m/s²。
按 GJB128A—19972052 条件A 进行，适用于空封器件，无空腔的器件可免做。
GB/T 32872—2016
试验结束剔除不合格器件后，按6.4.2进行合格判定。
适用于空封器件，无空腔的器件可免做。
内腔体积不大于1 cm³ 用细检漏法，按GJB128A—19971071 细检漏条件H1 或
H2。 内腔体积不
大于0.3cm³, 最大泄漏率5×10-3 Pa ·cm³/s, 内腔体积大于0.3 cm³,
最大泄漏率5×10-2 Pa ·cm³/s。
内腔体积大于1 cm³ 用粗检漏法，按GJB128A—19971071 粗检漏筛选条件C。
试验结束剔除不合格器后，按6.4.2进行合格判定。
储存温度110℃±2℃,保温时间48 h。
将被筛选器件(不通电)放入温度为110℃±2℃的试验箱中，存储48 h。
试验结束后，按6.4.2进行合格判定。
筛选条件如下：
a) 气压：常压；
b) 温度：低温-40℃±2℃,高温85℃±2℃;
c) 温浸时间：30 min;
d) 转换速率：不小于10℃/min;
e) 循环次数：5次。
试验过程中器件不通电。
试验结束后，按6.4.2进行合格判定。
筛选条件如下：
a) 气压：常压；
b) 温度： -40℃±2℃或产品规范或技术协议规定的最低极限工作温度；
c) 冷浸时间：大于15 min;
d) 冷启动次数：10次；
e) 冷启动每次间隔时间为：不小于5 min。
将处于不通电状态的被筛选器件放入试验箱中，至少15 min。
然后给每个器件进行低温启动(通
GB/T 32872—2016
电点亮，持续30 s),启动次数为10次，每次间隔时间为5
min,启动时器件应能正常点亮。
试验结束剔除不合格器后，按6.4.2进行合格判定。
筛选条件如下：
a) 高温温度：65℃±2℃;
b) 低温温度： -40℃±2℃;
c) 高温保持时间：2 h;
d) 低温保持时间：2 h;
e) 变温速率：不小于5℃/min;
f) 循环次数：5次。
试验过程中器件通电工作，通电电流为 Ip=Im(Iom 为 LED
实际使用中的额定工作电流)。
试验结束后，按6.4.2进行合格判定。
5.10.1 筛选条件
筛选条件如下：
a) 温度：25℃±5℃;
b) 老炼时间：240 h;
c) 恒流驱动电流：Ip=Iom。
5.10.2 筛选方法
器件通电工作，采用恒流驱动，使每个器件为I=Im,
在筛选过程中应监测前向电压。
试验结束后，按6.4.2进行合格判定。
老炼时间为240 h。
所有试验完成后，按6.1、6.2和6.3进行参数终测，所测参数应满足产品规范或技术协议的要求，
参数测量应在下列环境进行：
a) 温度：25℃±1℃;
b) 相对湿度：30%～65%;
c) 气压：86 kPa～106 kPa;
d) 测试应在稳定状态下进行，稳定状态为在15 min
内，光通量或光强变化小于0.5%。
GB/T 32872—2016
主要测试参数如下：
a) 正向电压Vr;
b) 法向光强 Iv;
c) 反向漏电流 IR;
d) 反向击穿电压VR;
e) 光谱；
f) 色温；
g) 显色指数；
h) 光通量；
i) 热阻。
根据使用要求可对测试参数进行删减。
将 LED 安装于散热结构上，通电电流为 Ir=Im,
的正向电压VF。
将 LED 安装于散热结构上，通电电流为 Ir=Im,
的法向光强 Iv。
待 LED 达到稳定状态后，记录壳温，测量 LED
待 LED 达到稳定状态后，记录壳温，测量 LED
施加5 V 的反向电压，测量器件此时反向漏电流 IR,测量电路参见图1。
style="width:2.77992in;height:1.63328in" />
说明：
R— 限流电阻；
G—— 电流计。
图 1 LED 反向漏电流测量电路
用晶体管特性图示仪测量 LED 的反向击穿电压VR。
用光谱仪测量光谱。
按 GB/T 24824—2009 的5.2测量光通量。
GB/T 32872—2016
按 GB/T 24824—2009 的5.4测量和计算色温和显色指数。
可用结温测量法反推热阻。通常用半导体器件瞬态测量仪测热阻。通过瞬间改变
LED 器件的功 率输入，采用采集系统快速测试出 LED
器件前向电压的变化情况，依据 LED 器件前向电压与结温的关
系曲线以及对温度变化曲线进行数值处理，抽取出结构函数，从结构函数中自动分析出热阻。
按6.1、6.2和6.3进行参数测量，所测参数应满足产品规范或技术协议的要求。
除外观检查、参数测量和参数终测外，每项试验结束后，器件在常温下放置2
h,然后在24 h 内测量
被筛选器件的正向电压VF、法向光强 Iv、反向漏电流 IR,
所测参数应满足产品规范或技术协议的要求。
将试验后所测量的参数与筛选前参数初测的器件参数进行对比，变化率满足式(1)～式(3)的器件
为合格，剔除不合格器件。
\|Vp₂-Vn\|≤0.05 …………………… (1)
式中：
Vr₂—— 试验后测量的正向电压，单位为伏特(V);
Vn—— 参数初测的正向电压，单位为伏特(V)。
style="width:2.19999in;height:0.71324in" /> …………………… (2)
式中：
Iv₂—— 试验后测量的法向光强，单位为坎德拉(cd);
Iy;—— 参数初测的法向光强，单位为坎德拉(cd)。
style="width:2.44669in;height:0.71324in" /> …………………… (3)
式中：
IR₂— 试验后测量的反向漏电流，单位为安培(A);
Im—— 参数初测的反向漏电流，单位为安培(A)。
style="width:3.09333in" />GB/T 32872—2016
(资料性附录)
空间科学照明用LED 筛选统计表
表 A.1 为空间科学照明用LED 筛选统计表。
表 A.1 空间科学照明用 LED 筛选统计
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